View Micro-Metrology全自动光学三坐标影像测量仪(ViewMM)是一家专业的光学测量设备供应商，生产适合过程工艺控制测量应用的全自动高精度光学三坐标影像测量系统&超高显微量测系统。 　　View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪适用范围： 　　◆Flip chip、BGQ、QFP、QFN、MCM等封装间距、线宽、角度、弧度、高度等尺寸测量 　　◆ SMT组装装配、PCB&FPCB挠性电路等关键尺寸测量 　　◆ 丝网印刷孔径、位置、厚度、角度等测量 　　◆ Bump on die、Solder Paste、 光纤关键尺寸测量 　　◆IC & LED封装引线架Leadframes、探针卡角度、间距、高度等测量 　　◆ LED SMD封装测量，包括胶高、间距等测量 　　◆PhotoMask、MEMS晶圆级检测、关键尺寸测量等应用 　　View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪特点： 　　◆ 1976年推出世界台高速影像测量光学三坐标； 　　◆ 花岗岩铸铁基底平台，稳定可靠，运动平稳； 　　◆ 全鼠标、手柄操作，简单易用； 　　◆ 亚像素分辨率全自动寻边功能，尤其可精准的处理弱边功能 　　◆ 固定双倍率光学镜头，1X/4X高低倍率瞬时切换，精度和重复性高于变焦镜 　　◆ 1/10~1/50的亚像素分辨率，保证高重复性和准确的弱边寻边 　　◆ 程控彩色环形LED光源，LED背光源&同轴光，角度和方向可调控，增强表面检测性能和灵活性 　　◆ 专利的Ronchi grid自动聚焦技术，适用于表面光滑或透明的材质高度测量 　　◆ 可加装激光测头 　　◆ VMS全自动可编程影像测量、数据分析软件，多种输出方式(CAD、notepad、excel)