KDCT1-7014一体化双色红外测温仪主要用于冶金行业高速线材（直径小、表面有抖动），钢或铁水流（氧化过程之中）、热轧板（上面有一层水）、以及水泥窑烧成带（光路中有大量粉尘）等物体温度的测量。适用于远距离测量小目标、发射率易变化的材料以及有强烈衰减的场合。
依据被测目标表面红外波段部分的热辐射进行非接触温度测量。影响测量结果的首要因素是被测目标表面发射率，其次是测量通道上的烟雾，水蒸气，灰尘，火焰，隔离玻璃，阳光直射等光学状况；测量小目标时，测量距离不当也能影响测温。红外测温解决了那些由接触测温无法完成的测温要求，如运动目标，容器内目标等。与接触测温相比其大特点是：对温度场无影响；因不接触高温目标，测试仪器不易损坏且经久耐用；另一方面，接触测温可深入目标内部测量，使用简单，而红外测温只能测到目标表面的温度，且测温准确度与目标发射率，使用条件等多种因素有关，因此，红外测温技术在使用时要比接触测温复杂得多。
二（1）单色测温原理
热辐射是一种电磁辐射，人的眼睛只能感知有限的可见光，光谱范围为0.38～0.75μm，其它范围的光谱人眼不能感受到。并且人眼能够观察到的红外辐射是不的。
选择不同的红外探测器能接收不同光谱范围内的红外辐射。本红外测温仪通过使用一个硅的红外探测器，比人眼更灵敏。通过使用一个标准的黑体辐射源，在探测器前加装一个窄宽滤色片，接收物体在某一个波长范围内的红外辐射来测量物体表面的温度。接收器将接收到的光电信号经过放大、滤波后送给MCU。MCU完成对信号的处理，经输出结果送给LED显示器和控制系统。
二（2）双色测温原理
KDCT1-7014双色红外测温仪使用一个叠层硅探测器，通过使用一个标准的黑体辐射源。分别在两个相近的红外波段接收物体发出的红外辐射信号。接收器将接收到的2路光电流信号经过放大、滤波后送给MCU,MCU完成对信号的采样。将2路信号相除后，得到比值与温度的对应关系曲线。MCU将比值信号经处理后送给LED显示器和控制系统。
只要物体的温度不变，则辐射能量的比值也保持不变。如果物体温度发生变化，则比值相应发生变化（这是由叠层硅探测器的特性决定的）。但是，测量不同的物体（如金属、非金属），比值变化的斜率是不同的，因此需要双色斜率系数修正。
双色测温模式采用了信号求比值的方式来确定温度。当测量小目标，测量现场多灰尘、水汽和雾气，测量距离远和近的变化和物体局部被遮挡，被测物发射率频繁变化等场合。由于相邻两波段接收到的信号同时减少，两信号相除的比值并不发生变化。
在许多情况下，采用双波段信号采集求比的方法，可减少测温值的波动。内置环境温度传感器，有效地解决了环境温度对测温仪的影响。
所以双色红外测温仪在现场使用时，具有抗干扰能力强、对准目标方便、长期使用稳定性好等特点。
