检测原理与缺陷类型：
针对透光率高的薄膜材料，系统采用透射的打光方式进行检测，即光源在薄膜的下方，相机在薄膜的上方进行图像拍摄（对于不透明的薄膜产品采用反射的检测原理），同时通过工业CCD相机实时扫描并采集光源照射处的产品图像。
系统将相机采集到的薄膜图像经过MVI图像软件算法进行瑕疵识别处理。由于瑕疵的成像图片与正常产品的成像图片存在灰阶差异，从而使的系统能够精准发现产品的缺陷；同时根据事先采集各类瑕疵的图像特征并记录缺陷库，从而实现了瑕疵的在线检测、分类与后续处置。
利用光源和相机角度的改变，呈现明/暗场影像，利用两种影像资讯融合判断网点情况。
藉由侦测位置的偏移量进行缺陷坐标位置补偿，避免分卷信息错误，导致缺陷流出。
系统功能：
◆ 的瑕疵坐标（X,Y坐标）定位及显示；
◆ 自动声光报警，并显示当前及前后10个瑕疵图像；
◆ 实时瑕疵标定，记录瑕疵直径、坐标、类型等信息；
◆ 实时监测米数，报警信息显示；
◆ 产品基本信息模块，记录产品批次、型号、规格、班号、操作员等信息；
◆ 根据瑕疵形状、面积大小、灰度差异等特征实现瑕疵自动分类；
◆ 自动生成每一卷产品的产品瑕疵记录，用户可根据批次号直接查询；
◆ 自动换卷，自动打印每一卷产品信息的质量报表；
◆ 检测历史记录的自动统计、保存、查询、调用及打印等功能；
设备指标：
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检测对象 |
保护膜、涂布膜、光学膜、锂电隔膜、食品包装膜 |
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检测幅宽 |
任意幅宽（根据生产线宽度进行定制） |
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检测速度 |
MAX：600m/min |
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检测精度 |
0.1mm*0.1mm |
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缺陷类型 |
晶点、线条、黑点、蚊虫、孔洞、划伤等常见缺陷 |
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测宽精度 |
产线无纵向偏移时误差≤3mm |
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缺陷标识 |
自动声光报警，同时在系统界面显示当前缺陷的具体图像及信息 |
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历史记录 |
记录每一卷薄膜缺陷的总数，分布的位置、大小、面积等信息 |
