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无损测试设备无线平板探测器元器件测试 IC半导体测试

产品单价面议

产品品牌ANZHU

最小起订≥1 台

供货总量100 台

发货期限自买家付款之日起 3 天内发货

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联系电话15317202960

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产品信息

基本参数

品牌:

ANZHU

所在地:

上海 嘉定区

起订:

≥1 台

供货总量:

100 台

有效期至:

长期有效
详细说明

无损测试设备:

                   

一、仪器简介:

 XDXIII-F350A型无损测试设备采用F350数字成像系统成像, 0.3微焦点射线管集约束散射线,数字成像,图像清晰.仪器全数字化软件使用功能;正反选图像、图像放大缩小、左右旋转,前后旋转、翻转、数字化高清灰度图像采集、千兆网端有线连接,电脑即时成像、存储和即时打印测试图片便携式设计、使用可靠、方便。


二、仪器特点:

 XDXIII-F350A型无损测试设备,主要针对电子元器件、封装元器、半导体元器件、BGACPUPCBAIC芯片、集成电路、连接器、电热丝、电路板、发热管、发热丝、电子产品内部结构是否变形、脱焊、空焊移位、等测试;同时还可用于:铸件、压模铸件、注塑件、气孔、气泡等测试.


仪器技术参数:

1、数字成像视场: 350x430mm(不同面积可订制)       

2、像素间距:139um         

3、间距:300-800mm        

4、A/D转换;16/bits           

5、空间分辨率;4.0LP/mm

6、管电压:40-120kv         

7、管靶流:0.15-0.35mA

8、电脑系统:windows10

9、电脑尺寸:16寸台式电脑

10、有线传输端口:千兆网口;

11、外形尺寸:1350×800x720mm

12、主机重量:210kg           

13、适配器输出电压:DC24V

14、交流电源频率:50-60hz

15. X射线泄漏量<1.u Gy/h

上海安竹光电科技有限公司  
欢迎来电咨询样品免费测试!


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